Presentación | Participantes | Bibliografía (DML-E) | Bibliografía adicional | Enlaces de interés | Otros proyectos DML | Ayuda  
INICIO | 27 de julio de 2024
  

Condiciones necesarias para pruebas secuenciales truncadas óptimas. Hipótesis simples.

Título inglés Necessary conditions for optimal truncated sequential tests. Simple hypothesis.
Título español Condiciones necesarias para pruebas secuenciales truncadas óptimas. Hipótesis simples.
Autor/es Castillo Ron, Enrique ; García, J.
Organización Univ. de Cantabria, Santander, España
Revista 0210-7821
Publicación 1983, 7 (1): 63-81, 17 Ref.
Tipo de documento articulo
Idioma Español
Resumen inglés The paper presents a new methodology to obtain partially sequential truncated tests which are optimum in the sense of minimizing the maximum expected sample number. This methodology is based on a variational approach and uses the Lagrange multipliers technique in order to obtain necessary conditions for a test to be optimum. By means of these conditions the optimum test can be obtained. Finally, the method is applied to the problem of testing the mean of an exponential distribution. As a particular test Wald's tests can be obtained in practice by using a sufficiently large truncation sample size.
Clasificación UNESCO 120910
Palabras clave español Prueba secuencial truncada ; Muestras ; Distribución exponencial ; Funciones de distribución
Código MathReviews MR0766891
Código Z-Math Zbl 0565.62060
Icono pdf Acceso al artículo completo
Equipo DML-E
Instituto de Ciencias Matemáticas (ICMAT - CSIC)
rmm()icmat.es